Dantsin-Trimos TRscan非接觸式微觀形貌測量儀，其穩固的機械結構保證非接觸測量達到納米級別。快速裝夾系統讓您可快速更換測頭且無需重啟軟件。極簡設計的Trimos Nanoware測量軟件可進行2D測量。內置“垂直拼接”功能以擴展傳感器的測量范圍。“宏程序”功能可實現完全的自動測量。使用一個小托盤夾具即可將其放在生產線中進行批量測量。多國語言分析軟件，可以根據當前的粗糙度標準和可用參數（如Ra、Rz、Rq等）生成測量報告。同一測量報告可以重復用于多個不同的項目。可進行動態分析，允許 選擇某些特定參數，而無需修改測量值。廣泛的傳感器可供選擇，以滿足您所有 的非接觸式測量需求。TR-Scan配備一個大數值孔徑的測頭，可以以35納米的分辨率進行1毫米高度的測量，爬坡角度高達45度。可選配置：
Dantsin-Trimos TR-Scan系列非接觸表面微觀形貌(粗糙度)測量儀，TRIMOS公司針對反射、非反射及透明表面測量為您提供獨特的多傳感器解決方案。快速裝夾系統讓您可以在幾秒時間內更換換測量頭，并且無需重啟軟件。多種傳感器可供選擇，高分辨率矩陣傳感器和超快速線陣傳感器可在毫米級測量范圍內進行快速測量，點掃描傳感器可進行更大測量范圍的測量。可用于計量單位和材料科學研發實驗室，也廣泛應用在工業制造領域：汽車、航天、航空、表面涂層、醫療產品、微型電機系統、半導體等行業。主要特點：? 逼真的三維形貌顯示? 三維表面形貌縮放和旋轉? 圖像提升工具? 表面照明配置 ? 渲染類型選擇? 表面高度放大倍數調整? 垂直方向調色板優化? 動畫視圖顯示 ? 視頻文件導出 ? 輪廓圖形顯示及照片模擬? 輪廓抽取及分析 ? 真彩圖轉換成三維偽彩圖 可選測頭： 應用示例：
Dantsin-TR Scan Compact WLI非接觸式微觀形貌測量儀是一款新的緊湊型白光干涉儀。體積小、使用簡單，快速測量橫向尺寸用于零件的3D和微觀形貌粗糙度，納米級測量的理想解決方案。我們的白光干涉測量技術（WLI）具有 0.1納米垂直分辨率，0.4毫米測量范圍。Mirau（10x，20x，50x，100x）或 Michelson（2.5x，5x）等多種鏡頭可供選擇以覆蓋小和大視場。? 高速壓電陶瓷Z軸 ? Mirau 鏡頭(10x, 20x,50x, 100x) ? Michelson 鏡頭(2.5x, 5x)? 壓電陶瓷驅動集成在工作站內 ? 直接影像? 2百萬或5百萬像素攝像頭（根據測量速度的需求配置）可選不同配置產品應用：三維圖像